European knowledge baseEuropean calibration knowledge platform
LightingLab Expert Center · fotometria és színmeasurement

Konica Minolta fotometriai és színmérő műszerek calibrationa

Pontszerű, kézi és spektrális műszerek eltérő calibrationi igényei, geometriai és spektrális hibaforrásai.

Pontszerű, kézi és spektrális műszerek eltérő calibrationi igényei, geometriai és spektrális hibaforrásai.

Műszercsalád és measurement elv

A Konica Minolta név alatt tristimulus színmérők, spektroradiométerek, fénysűrűségmérők és felületszín-mérők is találhatók. Az azonos manufacturer nem jelent azonos calibrationi módszert: a measurement mennyiség, geometria, optikai apertúra és detektorelv határozza meg az eljárást.

Látómező, apertúra és célfelület

A pontszerű fénysűrűségmérők resulte érzékeny a célfelület méretére, homogenitására, fókuszára és a measurement távolságra. A calibrationnál és használatnál igazolni kell, hogy a mérőfolt teljes egészében a conforming referenciafelületen helyezkedik el.

Színmeasurement és spektrális korrekció

Tristimulus műszereknél a spektrális illesztési hiba forrásfüggő. Spektrális műszereknél a hullámhosszskála, a sávszélesség és a szórt fény válik hangsúlyossá. A fehér referencia vagy gyári nullalap ellenőrzése nem helyettesíti a backvezetett calibrationt.

Optikai állapot és karbantartás

A lencse, diffúzor, mérőfej és referenciafelület szennyeződése irányfüggő vagy hullámhosszfüggő hibát okozhat. A tisztítás csak a manufactureri előírás szerint végezhető; agresszív szerrel a bevonat vagy a diffúzor karakterisztikája megváltozhat.

A certificate alkalmazhatósága

A certificate értelmezésekor ellenőrizni kell a műszermodelt, sorozatszámot, tartozékot, measurement módot, apertúrát, tartományt és a közölt korrekciókat. A felhasználói measurement mód akkor tekinthető lefedettnek, ha az érvényességi feltételek megfelelnek.

Metrológiai alapelv: a calibration resulte csak a dokumentált measurement módra, tartományra, geometriára, beállításokra és környezeti feltételekre értelmezhető.
Position in the knowledge system

Recommended next steps

Optikai metrológia áttekintése →
Foundation szint1 perc estimated reading5 fejezet